赤外線を用いて半導体デバイス内部を非破壊で観察するシステムです。

2件が見つかりました。

c9597-03 製品写真

半導体内部観察装置: C9597-03

  • 高感度VGA-InGaAsタイプ
  • 厚いサンプルにも対応

赤外光の透過・反射特性を利用し、半導体デバイス内部を観察するシステム。VGA-InGaAsカメラを採用し、厚みのあるデバイスや高濃度ウェーハの観察を可能にしました。

c9597-42u 製品写真

半導体内部観察装置: C9597-42U

  • 高解像度CMOSタイプ
  • デバイスの微小部分まで観察可能

赤外光の透過・反射特性を利用し、半導体デバイス内部を観察するシステム。400万画素のCMOSカメラを採用し、広視野かつ高解像度な観察を可能にしました。

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