専用光学系、カメラ、レーザビームプロファイラ等から構成されるビーム測定専用システムです。

10件が見つかりました。

ffp-vi 製品写真

半導体レーザFFP測定システム(可視用)

  • 400 nm~800 nm

専用光学系とカメラを用いたFFP測定システム。ビーム広がり角、N.A.等を高速に二次元解析します。可視用(対応波長範囲:400 nm~800 nm)。

ffp-nir 製品写真

半導体レーザFFP測定システム(近赤外用)

  • 635 nm~1100 nm

近赤外用FFP測定システム。(対応波長範囲:635 nm~1100 nm)

ffp-ir 製品写真

半導体レーザFFP測定システム(赤外用)

  • 900 nm~1550 nm

赤外用FFP測定システム。(対応波長範囲:900 nm~1550 nm)

nfp-vi 製品写真

半導体レーザNFP測定システム(可視用)

  • 400 nm~800 nm

専用光学系とカメラを用いたNFP測定システム。ビーム径、強度分布、楕円率、ビーム位置等を解析します。可視用(対応波長範囲:400 nm~800 nm)。

nfp-nir 製品写真

半導体レーザNFP測定システム(近赤外用)

  • 635 nm~1100 nm

近赤外用NFP測定システム。(対応波長範囲:635 nm~1100 nm)

nfp-ir 製品写真

半導体レーザNFP測定システム(赤外用)

  • 900 nm~1550 nm

赤外用NFP測定システム。(対応波長範囲:900 nm~1550 nm)

led-pulse 製品写真

LEDパルス発光評価システム

  • 1パルス内を時間分解測定

LEDのパルス点灯時の発光状態を1パルスごとに測定するシステム。1パルス内を時間分解しての測定も可能です。

opti-pickup 製品写真

光ピックアップビーム測定システム

  • ビーム径
  • 強度分布
  • 楕円率

DVDやCDピックアップLDのビーム径、強度分布、楕円率等を高分解能で解析するシステム。発光LDの裾部分のリング測定も可能です。

spatial-beam 製品写真

空間ビーム測定システム

  • 広い計測面積

スクリーン投影法を用いて空間ビームを瞬時に測定するシステム。広い計測面積と均一なスクリーン特性を有しています。

fiber-na 製品写真

ファイバN.A.測定システム

  • マルチモードファイバに対応

通信用光ファイバの基本パラメータであるN.A.を二次元的に瞬時に測定するシステム。マルチモードファイバに対応します。

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