レーザ干渉法や分光干渉法を用い非接触・高精度で厚みを測定するシステムです。

厚み/膜厚計測装置 ラインアップ
 

10件が見つかりました。

c13027-12 製品写真

Optical NanoGauge 膜厚計: C13027-11

  • シーケンサ接続・高速測定対応
  • 10 nm~100 μm

シーケンサ接続に対応し、最高200 Hzの高速測定が可能な膜厚測定装置です。対応測定範囲はガラス:10 nm~100 μm。

c12562-03 製品写真

Optical NanoGauge 膜厚計: C12562-03

  • 極薄膜測定・高速測定対応
  • 0.5 μm~300 μm

幅広い測定範囲に対応し、より高速な測定を実現した膜厚測定装置です。対応測定範囲はガラス:0.5 μm~300 μm。

c10178-02 製品写真

Optical NanoGauge 膜厚計: C10178-02

  • 基礎研究用機能拡張モデル
  • 20 nm~30 μm
  • UV対応

分光干渉法を用いたスタンダードタイプの膜厚測定装置です。対応測定範囲はガラス:20 nm~30 μm。

c10178-03j 製品写真

Optical NanoGauge 膜厚計: C10178-03J

  • 基礎研究用機能拡張モデル
  • 150 nm~50 μm
  • NIR対応

分光干渉法を用いたスタンダードタイプの膜厚測定装置です。対応測定範囲はガラス:150 nm~50 μm。

c11295 製品写真

Multipoint NanoGauge 膜厚計: C11295

  • 多点計測タイプ
  • 20 nm~100 μm

最大15ポイントの膜厚を同時に、リアルタイム計測する装置です。対応測定範囲はガラス:20 nm~100 μm。

c10323-02 製品写真

Optical NanoGauge 膜厚計: C10323-02

  • 顕微タイプ
  • 20 nm~50 μm

微小領域での薄膜計測を行う顕微タイプの膜厚測定装置です。対応測定範囲はガラス:20 nm~50 μm。

c11011-01 製品写真

Optical MicroGauge 厚み計: C11011-01

  • スタンダードタイプ
  • 25 μm~2200 μm
  • 1層測定

レーザ干渉法を利用した厚み計測装置です。対応測定範囲はガラス:25 μm~2200 μm、シリコン:10 μm~900 μm。

c11011-01w 製品写真

Optical MicroGauge 膜厚計: C11011-01W

  • スタンダードタイプ
  • 25 μm~2900 μm
  • 1層測定

レーザ干渉法を利用した厚み計測装置です。対応測定範囲はガラス:25 μm~2900 μm、シリコン:10 μm~1200 μm。

c11011-21 製品写真

Optical MicroGauge 厚み計: C11011-21

  • スタンダードタイプ
  • 25 μm~2200 μm
  • 10層測定

レーザ干渉法を利用した厚み計測装置です。対応測定範囲はガラス:25 μm~2200 μm、シリコン:10 μm~900 μm。

c11011-21w 製品写真

Optical MicroGauge 膜厚計: C11011-21W

  • スタンダードタイプ
  • 25 μm~2900 μm
  • 10層測定

レーザ干渉法を利用した厚み計測装置です。対応測定範囲はガラス:25 μm~2900 μm、シリコン:10 μm~1200 μm。

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