半導体故障解析装置 半導体故障解析装置

SEMICONDUCTOR APPLICATION LAB. | 半導体故障解析装置

SEMICONDUCTOR APPLICATION LAB.とは

SEMICONDUCTOR APPLICATION LAB.(静岡県浜松市 常光製作所内)は、お客様との共創を目的とした実験室です。弊社の専門エンジニアと共に、国内外のお客様との共同研究やサンプルをお預かりしての実験、購入前の実機検討などに幅広くご利用いただけます。また、実施後にお客様の検査・解析環境整備、検査・解析の最適条件・レシピの提案などもいたします。施設にお越しいただいてのご利用だけでなく、ビデオ通話でのリモート実験なども承ります。

SEMICONDUCTOR APPLICATION LAB.の利用ケース

SEMICONDUCTOR APPLICATION LAB.は、弊社製品をご利用いただいているお客様だけではなく、購入をご検討いただく方々にもご利用いただけます。

「購入検討のために装置を使ってみたい」「納品前に装置の操作方法を習得したい」「ユーザーとして応用的な使い方を知りたい」といった装置を使う場として、また「半導体の品質を高めるための課題解決をしたい」「新たな解析技術を探るための意見交換をする機会がほしい」といった半導体企業同士のコミュニケーションする場として、 様々な利用ケースに対応しています。

利用可能な製品一覧

PHEMOS-Xは半導体デバイスの故障に起因する発光・発熱などをとらえて故障箇所を特定する高解像度エミッション顕微鏡です。パワーデバイスから先端デバイス解析まで広く対応します。

PHEMOS-1000

PHEMOS-1000 エミッション顕微鏡 C11222-16

PHEMOS-1000は、半導体デバイスの故障に起因する発光・発熱などを捉えて故障箇所を特定する高解像度エミッション顕微鏡です。

※生産終了品

Thermal F1 エミッション顕微鏡 C14229-01

Thermal F1エミッション顕微鏡は、省スペース型の発熱画像解析装置です。欠陥に起因して発生する熱を高感度で検出することで故障箇所を特定します。

※生産終了品

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