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高解像度X線イメージングシステム

高耐久性単結晶蛍光面 | 高解像度X線イメージングシステム

 

X線イメージングの常識を一新する高耐久性単結晶蛍光面

高解像度イメージングユニットAA50用蛍光面オプションに従来よりもはるかに高いX線フラックス密度でのイメージングを実現する高耐久性単結晶蛍光面を用意しました。

放射光白色X線

蛍光面

白色X線を入射しても長時間安定したイメージング・計測を実現します。

 

測定条件
ビームライン SPring-8 BL28B2
X線エネルギー 白色
アッテネータ 空気(9 m)、アルミニウム(0.034 mm)、Be窓(ビームライン側1 mm厚+検出器側0.5 mm厚)
ビームサイズ 3×3 mm2
検出器 接着剤タイプ:AA40(f=50 mm)+ORCA®-Flash2.8(f=35 mm)
直接接合タイプ:AA40(f=50 mm)+ORCA®-Flash4.0(f=50 mm)
ピクセル分解能 接着剤タイプ:5.1 μm/pixel、直接接合タイプ:6.5 μm/pixel
蛍光面 LuAG(厚さ:従来 約20 μm、高耐久性単結晶蛍光面 約20 μm)

AA40は、耐久性評価目的で使用されています。単結晶蛍光面は、AA40での使用を推奨していません。

【データ提供】
公益財団法人 高輝度光科学研究センター 産業利用推進 主幹研究員 梶原堅太郎先生

記載の測定条件とデータは、評価時のものであり、すべての場合に適用されるとは限りません。参考指標としてお考え下さい。

フラックス密度4.7 ×1013 photons/s/mm2

蛍光面

従来使用していた20倍以上のフラックス密度のX線を入射しても長時間安定したイメージング・計測を実現します。

 

測定条件
ビームライン SPring-8 BL47XU
X線エネルギー 8 KeV
アッテネータ なし
フラックス密度 4.7×1013 photons/s/mm2
ビームサイズ 350×350 μm2
検出器 AA50(対物レンズ10×/NA0.3)+C13949-50U
ピクセル分解能 0.21 μm/pixel
蛍光面 LuAG(厚さ:従来 約22.3 μm、高耐久性単結晶蛍光面 約21.4 μm)

【データ提供】
公益財団法人 高輝度光科学研究センター 利用研究促進部門 主席研究員 上杉健太朗先生

記載の測定条件とデータは、評価時のものであり、すべての場合に適用されるとは限りません。参考指標としてお考え下さい。

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