時間分解吸収分光解析システム

Nanosecond system

時間分解吸収分光解析システムは、極短時間領域における過渡吸収測定を行う装置です。溶液、固体、薄膜などの光化学反応における反応中間体の生成消滅過程を追跡することができます。検出器にストリークカメラを使用し、シングルショットで多波長同時に時間分解測定することにより、不可逆的な現象をとらえることが可能です。また時間分解吸収スペクトルと過渡吸収時間分解分光イメージを同時に測定することもできます。検出装置に高ダイナミックレンジストリークカメラC13410を採用。これにより、微小な過渡吸収変化も高ダイナミックレンジ、高S/Nで測定することが可能になりました。

《Nanosecond system》時間分解能:7 ns、測定可能時間レンジ:20 ns~1 ms。

特長

  • 測定可能な最小OD値:0.005(シングルショット時0.02以下)
  • シングルショットで多波長同時測定
  • 高時間分解能
  • コンピュータ制御による自動計測可能

測定例

過渡吸収時間分解分光測定

時間分解吸収分光解析システム 測定例

超臨界二酸化炭素中(40 ℃、10.9 MPa)のアントラセンの三重項-三重項消滅反応過程の過渡吸収時間分解分光ストリーク像

 

ご提供

産業技術総合研究所 超臨界流体研究センター(仙台市)

研究員 相澤 崇史 様

時間分解吸収分光解析システム 測定例

時間分解吸収分光解析システム 測定例

仕様

システム名ナノ秒過渡吸収測定システム
時間分解能<7 ns
測定可能時間レンジ20 ns~1 ms
白色光源キセノンランプ 150 W CW
計測可能OD値(シングルショット)0.005(シングルショット時0.02以下)
同時観測波長幅(W)と波長分解能(Δλ)100 gr/mm:W=510 nm Δλ <3.0 nm
150 gr/mm:W=340 nm Δλ <2.0 nm
300 gr/mm:W=170 nm Δλ <1.0 nm
600 gr/mm:W=85 nm Δλ <0.5 nm
測定可能な波長範囲250 nm~750 nm
チャンネル数時間軸:1016 ch
波長軸:1344 ch

外形寸法図

C13410-01A 外形寸法図

C17047-01 外形寸法図

C13440-20CUカメラヘッド 外形寸法図

C13406-01 外形寸法図

アプリケーション : 発光材料評価

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