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ラミネートフィルム・金属箔用 光学式ピンホール検査ユニット

C12570 series

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ラミネートフィルム・金属箔のピンホール検査ユニットです。
光検出方式による非接触検査のため、液体によるストレスや電界・磁場・電解液など、特定環境にサンプルをさらすことなくピンホール検査が可能です。
高感度光センサである光電子増倍管を採用したことで、高精度な微小ピンホール検出を実現します。

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特長

非接触でワークにストレスを与えない

高精度な微小ピンホールの検出が可能

高感度光センサである光電子増倍管を採用したことで、CCD画像解析では捕らえられない最小φ2 μmのピンホールを最速30 m/mimのワークスピードで検出可能。


しきい値(任意)に対するピンホール判定機能付 (*1)

検出器感度・ピンホール判定しきい値を前面パネル部で任意設定可能。


自己診断機能付

検出器動作の確認ができるため、信頼性の高い検査が可能。


過大光対策回路内蔵

過大光入射時の検出器へのダメージを軽減する回路内蔵。


用途により光源位置の異なる2タイプから選択可能


NOTE:(*1)ピンホールの個数、大きさ、位置などの特定はできません。

検出原理


C12570 principle of operation

仕様

C12570 specifications

検査対象物

C12570 application example

オプション

C12570 option C12043

外形寸法図(単位:mm)

C12570 dimensional outline

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