ピコ秒蛍光寿命測定用ストリークカメラ

ピコ秒蛍光寿命測定用ストリークカメラは、検出器として超高速現象を直接観測できるストリークカメラを用いて、800 fsの時間分解能での時間分解測定を実現したシステムです。フォトンカウンティグ法を用いた超高感度を特長とすると共に、分光器と組み合わせて多波長同時計測が可能なので、ミリ秒~ピコ秒領域での時間分解スペクトルを追跡することができます。専用のソフトウェアを用いて機器を制御しますので、操作性にも優れています。

特長

  • 800 fsの高時間分解能を実現
  • ピコ秒~ミリ秒までの蛍光現象をカバー
  • 多波長同時計測
  • 紫外~近赤外の波長域をカバー
  • 二次元フォトンカウンティング法を実現
  • 100 000:1以上のダイナミックレンジで計測
  • 蛍光寿命を短時間でS/N良く計測
  • 温度制御された半導体レーザピコ秒光源により、高精度な計測が可能
  • 標準光学系を装備し、光学系の調整が容易

用途

  • 光物理、光化学初期過程の研究
  • 表面、界面等の微視的環境および動的構造の研究
  • 高分子薄膜、LB膜、液晶、蒸着膜等の2次元系分子集合体の動的構造の研究
  • 生体膜中におけるタンパク質の回転、並進拡散の研究
  • 励起子ダイナミクスの研究および量子サイズ効果の研究
  • 有機EL材料の時間分解蛍光及びりん光スペクトルの評価
  • フォトニック結晶の研究
  • その他、あらゆる分野における蛍光寿命測定による研究、評価、検査

システム構成例

モードロックTi-Sapphireレーザとの組み合わせ例

ピコ秒蛍光寿命測定装置 システム構成図

モードロックTi-Sapphire+Regenerative Amplifierレーザとの組み合わせ例

ピコ秒蛍光寿命測定装置 システム構成図

PLP-10レーザダイオードヘッドとの組み合わせ例

ピコ秒蛍光寿命測定装置 システム構成図

外形寸法図

c11200 外形寸法図

c11200 電源ユニット 外形寸法図

Picosecond 外形寸法図

C17047-01 外形寸法図

関連情報

アプリケーション : 発光材料評価

発光材料評価 アプリケーションページでは、発光材料や発光デバイスの特性を評価するための手法や原理、測定機器、測定事例等を紹介しています。

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