厚み/膜厚計測装置

FAQs | 厚み/膜厚計測装置

測定に適した材料、測定できない材料について教えてください。

光を通す材料であれば、基本的に測定可能です。

100 nm以上の金属膜など光を通さないサンプルの測定は困難です。(50 nm以下の測定は実績あり)また、光が散乱しやすいサンプルも測定が困難です。

ヘイズ率等の詳細スペックについては、弊社までご相談ください。

どのような用途に使用されていますか?

半導体、FPD、フィルムなどの製造工程の検査(膜厚管理)を主として、インライン・オフラインで採用されています。

測定可否の確認のため、デモ測定を行いたいのですが可能でしょうか?

お客様のサンプルを用いたデモ測定に対応しています。

Optical Gaugeシリーズのデモ機を用意いたしますので、弊社までご相談ください。

Optical Gaugeの厚み測定結果の確認は、どのように実施していますか?

弊社では、第3者機関が厚みを保証するサンプルを測定し、その基準値と測定結果を判断し厚み確認を行っています。

なお、申し訳ございませんが、弊社で値の確認ができないサンプルにつきましては、保証は致しかねます。

どのくらいの精度で測定が可能でしょうか?

絶対精度には、材料の光学定数(屈折率と吸収係数)が関わってきます。

この光学定数が正しければ、絶対厚の精度が高まります。弊社では、第3者機関であるVLSI Standardsの測定保証書記載の保証範囲を測定精度としています。また、再現性に関しては、石英ガラス400 nmのサンプルで標準偏差が0.02 nmとなります。

高さ変動に強いとありますが、どのくらいでしょうか?

数mmの変動に対応することが可能です。

詳細は、厚み/膜厚測定の課題のページのデフォーカス依存性をご覧ください。

納品後の相談・連絡はどのような内容が多いですか?

ハードウエアの修理相談は比較的少なく、ソフトウエアを含めた解析部分、特にレシピ設定についての相談が多いです。

この点に関しましては、簡易レシピ設定の機能があり、お客様でも設定することが可能です。

自動測定は可能でしょうか?

Optical Gaugeシリーズの製品は、外部通信機能により自動測定に対応しています。C15151-01、C13027では、電気的な入力・出力信号による測定制御が可能ですので、シーケンサ接続も容易に行えます。

サンプルとセンサの距離を長くした測定は可能でしょうか?

通常測定では、サンプルとセンサの距離は10 mm以下となりますが、35 mmのワーキングディスタンスに対応した光学系も準備しています。

デモ測定のご案内

浜松ホトニクスでは、厚み/膜厚計測装置を用いたデモ測定を行っております。弊社内のデモルームにて、専門エンジニアと共に、国内外のお客様との共同研究やサンプルをお預かりしての実験、購入前の実機検討などに幅広くご利用いただけます。

また、最適な製品の紹介だけでなく、長年のビジネスで培った経験をもとに、測定のコツやノウハウも含めた最適なソリューションを提案いたします。お気軽にお問い合わせください。

製品の購入やさらに詳しい情報についてはお問い合わせください。

  • 資料請求
  • 価格
  • 納期
  • カスタマイズ
  • デモ依頼
  • サポート
  • その他

お問い合わせ

お問い合わせ内容によっては、回答にお時間をいただく場合やお答えできない場合がございますので、あらかじめご了承ください。