回路設計・パターン設計

仕様に応じて回路を組み合わせてパターンを設計する工程です。

故障箇所の特定

デバイスの不良箇所を特定します。
微弱な光や熱から不良箇所を特定して、物理解析結果を設計にフィードバックすることにより、不良の発生を抑制して歩留まりを向上させます。

関連製品

半導体デバイス内部の故障に起因する微弱な発光・発熱などをとらえて故障箇所を特定する高解像度エミッション顕微鏡です。

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